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簡介： 9J-V圖像光切法顯微鏡是本公司原廠經典產品之一，是基礎型9J光切法顯微鏡的升級產品，配以數碼影像系統。儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。光切法特點···
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一、用途：
9J-V圖像光切法顯微鏡是本公司原廠經典產品之一，是基礎型9J光切法顯微鏡的升級產品，配以數碼影像系統。儀器是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0～80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
二、儀器的成套性：
1．儀器本體 1臺
2．測微目鏡 1只
3．坐標工作臺 1件
4．V 型塊 1件
5．標準刻尺（連盒） 1件
6．7 倍物鏡 1組
7．14 倍物鏡 1組
8．30 倍物鏡 1組
9．60 倍物鏡 1組
10．可調變壓器220/4～6/5VA 1只
11．LED光源 一套
12. 數碼攝像系統 1套
13. 專用適配鏡及接口 1套(品牌電腦及打印機另可選購)
三、規格
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測量范圍不平度平均高度值 （微米） | 表面光潔度級別 | 所需物鏡 | 總放大倍數 |
物鏡組件 工作距離 （毫米） |
視場 （毫米） |
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＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80 |
9 8～7 6～5 4～3 |
60×N.A.0.55 30×N.A.0.40 14×N.A.0.20 7×N.A.0.12 |
510× |
0.04 0.2 2.5 9.5 |
0.3 0.6 1.3 2.5 |
攝影裝置放大倍數 約6倍
測量不平度范圍 (1.0～80)微米
不平寬度 用測微目鏡 0.7微米～2.5毫米
用坐標工作臺 (0.01～13)毫米
儀器重量 約23公斤
外形尺寸 約180×290×470毫米